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TOPCON 分光放射計
SR-UL1R、SR-UL2

超低輝度分光放射計

■ TOPCON SR-UL1R

jerrytech

SR-3AR的桿度大幅提升後所開發出來的超低輝度分光放射計第1款機型

■ 產品特點:

  • 可量測超低輝度0.001cd/m2以上。
  • 根據所搭配的FAST MODE,從低輝度計範圍開始可高速測定。
  • 寬廣的測定範圍(0.001~300,000cd/m2)。
  • 輝度精度±2%、色度精度±0.002的高精度表現。
  • 能由外部的PC控制,自律地換測定角。 
  • 無需使用輔助鏡,即能夠高精度量測細微面的低輝度領域
  • 高精度量測閃爍光源(搭載同步量測功能、延遲積分時間功能)
  • 使用標配應用軟體,能夠進行豐富的數據處理及主機控制

■ 產品規格:

jerrytech

■ TOPCON SR-UL2

jerrytech

超低輝度分光放射計第2款機型

■ 產品特點:

  • 高速量測超低輝度:( 0.005 cd/m² -)
  • 寬廣的量測範圍:(0.0005~300,000 cd/m²)
  • 無需使用輔助鏡,即能夠量測細微面的超低輝度
  • 搭載同步測量功能及積分時間延遲功能,進而能夠高精度量測閃爍光源
  • 標配應用量測軟體、能夠進行豐富的數據處理及控制主機

■ 產品規格:

jerrytech

■ 規格性能及用途:

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